電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)，電致發(fā)光測(cè)試儀特點(diǎn)

    電致發(fā)光/光致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)是專業(yè)為發(fā)光材料發(fā)光光譜測(cè)量設(shè)計(jì)的電致發(fā)光/光致發(fā)光測(cè)試儀器,適合測(cè)量LED與發(fā)光材料發(fā)光特性和發(fā)光效率,并對(duì)發(fā)光元件特性優(yōu)劣分析。

    電致發(fā)光/光致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)采用4''PTFE高反射率積分球收集LED各角度發(fā)光,可能測(cè)量LED和發(fā)光材料。電致發(fā)光測(cè)試儀系統(tǒng)特點(diǎn)：針對(duì)新型電致發(fā)光材料設(shè)計(jì)、快速超低亮度0.1cd/m2測(cè)量能力；LED老化測(cè)量功能；外部量子效率測(cè)試；可與手套箱整合；具備NIR波段(700-1000nm)測(cè)試能力；LED全參數(shù)測(cè)定能力。

    采用PTFE積分球測(cè)量系統(tǒng)：產(chǎn)業(yè)化LED的標(biāo)準(zhǔn)；準(zhǔn)確測(cè)量輻射光通量(１m)與功率(W)；LEDEQE低亮度測(cè)量能力可<0.1cd/m2；智能調(diào)變光譜儀曝光時(shí)間，提升測(cè)試速度；多種LEDEQE測(cè)試夾具。

    電致發(fā)光缺陷檢測(cè)儀空間分辨力測(cè)試板,所述空間分辨力測(cè)試板上分布有復(fù)數(shù)個(gè)檢測(cè)方塊組,每一所述檢測(cè)方塊組包括復(fù)數(shù)個(gè)具有不同線對(duì)條紋寬度的檢測(cè)方塊,每一所述檢測(cè)方塊由復(fù)數(shù)個(gè)黑白間隔的線對(duì)條紋組成,不同所述檢測(cè)方塊組內(nèi)線對(duì)條紋的方向不同,同一所述檢測(cè)方塊組內(nèi)線對(duì)條紋的方向相同,每一個(gè)線對(duì)條紋內(nèi)黑白條紋的寬度一樣,所述空間分辨力測(cè)試板具有近紅外光可穿透性。